x射線技術(shù)可以實時圖像納米特性

科學(xué)家開發(fā)出了一種新的成像技術(shù),看起來在一個對象和地圖的三維分布的納米特性在實時。

 

曼徹斯特大學(xué)的研究人員,和同事一起工作在英國,歐洲和美國,聲稱該技術(shù)可以廣泛的應(yīng)用在許多學(xué)科,如材料科學(xué)、地質(zhì)學(xué)、環(huán)境科學(xué)和醫(yī)學(xué)研究。

 

“這個新的成像方法——稱為一對象征分布函數(shù)計算層析成像的一個最重要的發(fā)展在x射線微斷層近30年,”羅伯特Cernik教授說在曼徹斯特材料學(xué)院的。

 

“用這種方法我們能夠圖像對象在一種非損傷性方式來揭示他們的物理和化學(xué)納米屬性和聯(lián)系到他們的分布在三維空間在微米級。

 

“這樣的關(guān)系是關(guān)鍵,了解材料的性能,因此可以用來看看原位化學(xué)反應(yīng),探針應(yīng)力-應(yīng)變梯度在制造的部件、區(qū)分健康和病變組織,確定礦物和含油巖石或識別非法物質(zhì)或違禁品在行李。”

 

這項研究發(fā)表在《自然通訊》雜志上,解釋了新的成像技術(shù)使用散射x射線來形成一個三維重建圖像。

 

當(dāng)x射線擊中一個對象他們要么是傳播、吸收或散射,Cernik教授在一份聲明中說。“標(biāo)準(zhǔn)x射線斷層掃描是通過收集傳播梁、旋轉(zhuǎn)樣本和數(shù)學(xué)重建物體的3 d圖像。這只是一個密度對比圖像,但是,通過類似的方法使用散射x射線相反我們可以獲取信息和化學(xué)結(jié)構(gòu)的對象,即使它有一個納米晶體結(jié)構(gòu)。

 

通過使用這種方法我們能夠構(gòu)建一個更詳細(xì)的圖像對象和第一次分離納米結(jié)構(gòu)的不同部分的信號從一個工作裝置看到原子被做在每一個位置,在不拆卸對象。”

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